據(jù)了解，有的紫外可見分光光度計(jì)只測試220nm處的雜散光，不測試340nm處的雜散光，這樣是不正確的，需測試220nm處雜散光是因?yàn)椋孩俑鶕?jù)量子光學(xué)理論，波長是能量的倒數(shù)，波長短能量大，容易產(chǎn)生雜散光，而220nm處屬于短波部分；②根據(jù)儀器學(xué)理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小，容易顯現(xiàn)雜散光；③根據(jù)儀器學(xué)理論中的光電發(fā)射理論，光電倍增管在220nm處的光譜響應(yīng)（靈敏度）低，容易顯現(xiàn)雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的，因?yàn)?40nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調(diào)換濾光片的地方，此時(shí)zui容易產(chǎn)生雜散光。所以，對于紫外可見分光光度計(jì)來講，應(yīng)該測試220nm和340nm兩處的雜散光。 上一篇 紫外可見分光光度計(jì)出現(xiàn)故障如何處理 下一篇 熒光分光光度計(jì)基本結(jié)構(gòu)有哪些